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硅光波導測量指南——OCI高分辨光學鏈路診斷儀

發布時間:2021-03-31閱讀次數:51次
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聚焦于光通信器件測試服務解決方案的提供商——乐鱼体育下载重點推介OCI高分辨光學鏈路診斷儀,OCI是一款超高精度光學鏈路診斷儀,原理基于光頻域反射(OFDR)技術,單次測量可實現從器件到鏈路的全范圍診斷。OCI可輕松查找并判別光纖鏈路中的宏彎、連接點和斷點,并精確測量回損、插損和光譜等參數,其事件點定位精度高達0.1mm。OCI不僅可用于光學鏈路診斷,還可拓展分布式光纖傳感功能,實現應變和溫度高分辨測量。OCI具有較高空間分辨與回損測量精度,可以快速并準確地獲取高度集成性硅光鏈路任意位置的回損特性。

產品特點

?波長范圍:

1525~1625 nm或1275~1345 nm

?空間分辨率:

10 μm@50 m、20 μm@100 m

?測量長度:100 m(可定制升級)

?自校準,無需人為干預,穩定性好

?可擴展分布式溫度、應變測量

?支持軟硬件定制,如網口通訊、遠程控制和系統集成

產品應用

? 光器件、光模塊測量

? 光纖長度精確測量

? 硅光芯片測量

? 光譜、群延時測量


測試案例

插入損耗測試

光纖鏈路通常包含多連接點、彎曲和多器件, OCI 特有的分布式高精度插損測量能力,可以快速準確地測量并定位鏈路各事件點的插損。

案例中用可調衰減器在衰減2 dB、3 dB、5 dB時重復測量 10次,插損測量重復性誤差小于 0.1 dB。



回波損耗測試

硅光鏈路具有高度集成性,傳統回損測試方案無法精確定位、測量硅光鏈路某一位置或器件回損特性。OCI具有較高空間分辨與回損測量精度,可以快速并準確地獲取全鏈路任意位置的回損特性。

如圖所示為平面波導延遲線。選取芯片中心0.2 m長度區域計算回損,其值為-57.95 dB。同樣,研究人員也可通過OCI測量光纖與硅光芯片耦合點回波損耗來評估耦合效率。


光纖長度測量

OCI在50 m測量范圍內空間分辨率為10 μm,非常適用于高精度光學延時測量領域,如光纖延時、硅光延時、空間光路延時以及邁克爾遜干涉儀的精準測量。



啁啾光柵光譜及延時測量

OCI采用掃頻光源,覆蓋C+L波段,根據氣體吸收線定位波長,可以實現1pm光譜測量精度和1ps群延時測量精度。


以啁啾光柵為例,測量距離-反射率曲線、光譜及延時曲線,測量空間分辨率為10 μm。


根據延時曲線測量結果,可以計算出光柵的平均色散補償系數為11.1979 ps/nm。

產品參數


備注:

1.長度可定制;

2.不同模式的測量時間不同;

3.可定制其他波段;

4.擴展功能為升級模塊,需要單獨購買;

5.實際測量值為延時,輸入折射率可得到長度值;

6.高精度模式下獲得;

7.溫度測量范圍取決于傳感器。

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