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時間分辨熒光共聚焦顯微成像及光譜系統TRPL Mapping

發布時間:2022-01-11閱讀次數:10次
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TRPL Mapping系統簡介:
MicroTime100 & FluoTime300將正置共聚焦熒光壽命顯微鏡和熒光壽命光譜儀結合在一起,能實現幾百nm的空間分辨率和ps~s的熒光壽命測試和光譜測試。能用于檢測:熒光共聚焦成像、熒光壽命成像、時間分辨光譜、穩態激發/發射譜、時間分辨熒光共聚焦顯微光譜、自由選取ROI的微區(時間分辨)熒光成像和(時間分辨)光譜,并且支持升級單分子光譜功能(閃爍,反聚束)、拓展了FLIM和紅外部分,完全適用于諸多薄膜、納米材料的研究,是研究時間分辨光致發光的理想工具。

TRPL Mapping系統工作原理圖:

TRPL Mapping系統產品組合:

主要特點:
?  在共聚焦成像基礎上,可選點做微區PL、TRPL測試
?  半導體激光器波長從375nm到1060nm可選
?  可配置多個單光子探測器,用于反聚束檢測
?  納米級XYZ 掃描臺
?  幾百nm的空間分辨率,皮秒到秒級別的壽命測量范圍
?  探測波長范圍從350nm至1000nm可選,可擴展至1700nm
?  高配版光譜儀支持氙燈激發,低溫和量子產率擴展

主要功能:
? 熒光壽命成像 (FLIM)
? 磷光壽命成像(PLIM)
? 熒光共振能量轉移(FRET)
? 模式匹配分析
? 時間分辨光致發光(TRPL)
? TRPL 成像
? 反聚束效應

主要應用:
? 單分子光譜/探測
? 單線態氧研究
? 熒光上轉換
? 熒光各向異性研究
? 穩態熒光光譜測量
? 量子產率測量
? 光化學研究
? LEDs,OLED,量子點檢測


應用實例:
1、TRPL for Semiconductor Analysis—Device Architecture Characterization
用于半導體分析的TRPL——器件結構表征

2、CIGS MAPPING
對CIGS材料的mapping,通過熒光壽命的分析,可以直觀看出缺陷

3、perovskite solar cells

4、Carrier diffusion
GaAsP 量子阱系統中的載流子擴散

鹵化物鈣鈦礦晶體中的載流子擴散



通過對時間和三維空間的4維數據的采集,可以可視化半導體/太陽能電池不同區域和深度的載流子擴散。因此,它們可以揭示載流子擴散的局部變化以及諸如載流子缺陷和晶體邊界等微尺度的異質性。

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